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MT-300-IC半導體LED芯片金線檢查金相工具顯微鏡
一、產品功能
該設備主要用于手機顯示模組及有關產品的觀察及尺寸測量。將工件放于顯微鏡下，使用不同的物鏡對產品進行觀察，對需要測量的位置使用帶光柵的高精密移動平臺結合數據處理軟件進行尺寸測量，使用數字相機進行實時影像處理、觀察以及拍照，實現對產品的尺寸以及外觀檢查。
二、系統構成
全套設備由以下幾部分組成：
1、MT-300工具金相顯微鏡
2、OMT-1.5D定制測量軟件
3、630萬像素USB3.0高速相機（30幀），可選1200萬（20幀）和2000萬像素（12.5幀）
4、外設（計算機）
三、技術參數
1、MT-300測量顯微鏡；
1）顯微鏡類型：工具金相顯微鏡;
2）放大倍數：放大50、100、200、500倍；可以選配1000倍
3）光源類型：5W白光LED燈；
4）視場數：22；
5）照明方式：反射光，科勒照明/透射光普通照明；
6）觀察方法：明場；
7）微分干涉：DIC微分干涉成像；（干涉片為選配）
8）物鏡轉盤：5孔明場物鏡轉盤；
9）物鏡類型：平場復消色差物鏡；
10）載物臺結構：三層機械結構高精度移動載物臺
11）測量行程：X軸300mm，Y軸200mm，Z軸200mm
2、OMT-1.5D測量軟件
1）實時影像觀察
2）實時圖像抓取
3）二維幾何尺寸測量
4）測量結果報表輸出
5）多分辨率切換
3、USB3.0高速數字相機；
1）630萬有效像素
2）1/1.8"CMOS芯片，單個像素面積2.4X2.4um
3）半導體制冷
4）采用OTC真彩還原技術，具有優良的色彩還原效果；
5）高靈敏度，*短曝光時間10ms；
6）高速USB3.0數據傳輸；
7）標準C-mount視頻接口；
4、高精度載物臺
1）XY行程300X200mm，臺面450*350mm
2）平臺光柵顯示精度值0.5um，可以選配0.1um
3）傳動方式：手動
5、Z軸測量準確度
1）Z軸光柵顯示精度值0.5um（可以選配0.1um），測量精度在3-5um
2）傳動方式：手動
6、外設
計算機：戴爾品牌
OptiPlex 3050MT操作系統W7處理器芯片I5-7500，3.40GHZ內存8G，硬盤1TB， DVD光驅
23寸戴爾顯示器HDMI高清1920*1080
MT-300測量顯微鏡結合了金相顯微鏡的高倍觀察能力，和影像測量儀的 X、Y、Z 軸表面尺寸測量功能，具備明暗場、微分干涉、偏光等多種觀察功能。可廣泛應用于半導體、PCB、LCD、手機產業鏈、光通訊、基礎電子、模具五金、醫療器械、汽車行業、計量行業等領域的檢測。
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光學系統 |
無限遠光學系統 |
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觀察頭 |
30°傾斜，正像，無限遠鉸鏈三通觀察筒，瞳距調節 :50-76mm，兩檔分光比 100/0 或 0/100 |
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目鏡 |
高眼點大視野平場目鏡 PL10X/22mm，可帶測微尺 |
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轉換器 |
內定位 5 孔轉換器 |
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物鏡 |
5X無限遠長工作距平場消色差金相 DIC 物鏡 |
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10X無限遠超長工作距平場消色差金相 DIC 物鏡 |
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20X無限遠超長工作距平場消色差金相DIC物鏡 |
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50X無限遠長工作距平場明場消色差金相物鏡 |
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100X無限遠超長工作距平場明場半復消金相物鏡 |
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放大倍率 |
光學放大倍率 ：50X-1000X |
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系統放大倍率 ：135X-2700X |
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測量顯微鏡主體 |
手動測量平臺（行程 200mm(X)×100(Y)mm，帶數顯器；樣品高度 175mm； 測量精度，X 和 Y ：（2+L/200)μm，L 為測量長度（單位 mm） Z:（3+L/200)μm |
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手動測量平臺（行程 300mm(X)×200(Y)mm，帶數顯器；樣品高度 175mm； 測量精度，X 和 Y ：（2+L/200)μm，L 為測量長度（單位 mm） Z:（3+L/200)μm |
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照明系統 |
明場反射照明器，帶明場照明切換裝置 ；帶濾色片插槽與偏光裝置插槽，帶 5WLED 燈源，亮度可調（含托架適配器） |
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輔助對焦模塊，帶對焦分劃板兩檔， |
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調焦方式 |
手動粗微調手輪調節，精度0.001mm，調焦距離 175mm |
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偏振光 |
起偏鏡插板，360°旋轉式檢偏鏡插板 |
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DIC 組件 |
微分干涉組件 |
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相機 |
像素630 萬 ；3072(H)×2048(V) ；幀率 ：30fps ；接口 ：USB3.0 ；圖像傳感器 ：CMOS（彩色） |
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攝像接口 |
0.65XCTV、C 型接口、可調焦 |
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PC |
戴爾電腦OptiPlex 3050MT操作系統W7處理器芯片I5-7500，3.40GHZ內存8G，硬盤1TB， 23寸戴爾顯示器HDMI高清1920*1080 |
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軟件 |
OMT-1.5精密測量軟件 |
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標尺 |
0.01mm |
